<!-- 本文件由脚本自动转换生成，请勿手动编辑 -->

> **《LKS32MC09x User Manual》模拟电路** . 完整目录见 [README.md](README.md)
>
> **声明**：本文档由芯片用户手册自动转换生成，仅供检索与查阅参考。Markdown 格式可被自由编译、修改，本文档不构成正式技术文件，相关内容以凌鸥创芯官方网站正式发布的手册为准。
>
> 南京凌鸥创芯电子有限公司 . (C) 2023, 版权归凌鸥创芯所有 . 机密文件，未经许可不得扩散

# 模拟电路

## 简述

模拟电路包含以下模块:

- 集成2路12BIT SAR
  ADC，采样率2Msps，每路采样电路最多16个外部ADC通道信号可选。
- 集成4路运算放大器，可设置为PGA模式
- 集成2路比较器，可设置迟滞模式
- 集成1路12BIT数模转换器，集成1路8BIT数模转换器
- 内置±2℃温度传感器
- 内置高精度基准源

各个模块之间的相互关系、以及各模块的控制寄存器（寄存器的说明见下文“模拟寄存器表”）如下图所示。

【图片已删除】为控制知识库体积，本文档不携带图片，相关图示请查阅凌鸥创芯官网发布的正式手册。

图5-1模拟电路功能框图

### 电源管理系统

电源管理系统由LDO15模块、上电/掉电复位模块（POR）组成。

该芯片由2.5V~5V单电源供电，以节省芯片外的电源成本。芯片内部集成一路LDO15给内部所有数字电路、PLL模块供电。上电启动电压在2.13V，下电掉电电压在1.93V。

LDO上电后自动开启，无需软件配置。

POR模块监测LDO15的电压，在LDO15电压低于1.20V时（例如上电之初，或者掉电时），为数字电路提供复位信号以避免数字电路工作产生异常。AVDD从3~5V变化时，变化差值在1mV以内。电压低于3V时，由于LDO增益下降等原因，差值变大。

### 时钟系统

时钟系统包括内部32kHz RC时钟、内部8MHz RC时钟、PLL电路组成。

32kHz
RC时钟LSI主要用于系统内的看门狗模块以及复位信号滤波等，也可用作MCU主时钟。8MHz
RC时钟可作为MCU主时钟使用。PLL最高可提供96MHz的时钟，可作为系统主时钟。

32kHz和8MHz RC时钟均带有出厂校正，可在常温下实现32kHz
RC时钟±5%的精度，8MHz RC时钟±1%的精度。32kHz
RC时钟在-40~105℃范围内的精度为±50%，8MHz RC时钟在该温度范围的精度为±1%。

8MHz
RC时钟通过设置BGPPD=’0’打开（默认打开，写1关闭），RC时钟需要BGP电压基准源模块提供基准电压和电流，因此开启RC时钟时实际上连带开启了BGP模块（BGPPD=’0’）。芯片上电的默认状态下，8MHz
RC时钟和BGP模块都是开启的。32kHz RC时钟始终开启，不能关闭。

PLL对8MHz
RC时钟进行倍频，给MCU、ADC等模块提供更高速的工作时钟。MCU和PWM模块的最高时钟为96MHz，ADC模块最高时钟32MHz。

PLL通过设置PLLPDN=’1’打开（默认开启），开启PLL模块之前，同样也需要开启BGP模块。开启PLL之后，PLL需要32us的稳定时间来输出稳定时钟。芯片上电的默认状态下，RCH时钟和BGP模块都是开启的，但PLL默认是关闭的，需要软件来开启。

BGPPD /PLLPDN的说明见模拟寄存器SYS_AFE_REG1，SYS_AFE_REG5

### 基准电压源

基准源电路(BGP REF: Bandgap
reference)为ADC、DAC、RC时钟、PLL、温度传感器、运算放大器、比较器和FLASH提供基准电压和电流，使用上述任何一个模块之前，都需要开启BGP基准电压源。

芯片上电的默认状态下，BGP模块是开启的。通过设置BGPPD
=’0’将基准源打开，从关闭到开启，BGP需要约6us达到稳定。BGP输出电压约1.2V，精度为±0.8%

BGPPD的说明见模拟寄存器SYS_AFE_REG1

### ADC模块

请参加第12章。

### 运算放大器

芯片集成4路输入输出轨到轨（rail-to-rail）运算放大器，内置反馈电阻，外部引脚上需串联一个电阻R<sub>0</sub>到信号源。反馈电阻R<sub>2</sub>:R<sub>1</sub>的阻值可通过寄存器RES_OPA\[1:0\]设置，以实现不同的放大倍数。

RES_OPA\<1:0\>的说明见模拟寄存器SYS_AFE_REG0

放大器的结构示意图如下所示:

【图片已删除】为控制知识库体积，本文档不携带图片，相关图示请查阅凌鸥创芯官网发布的正式手册。

图5-2放大器框图

图中两个R<sub>0</sub>是片外需放置的电阻，阻值必须相等，最终的放大倍数为R<sub>2</sub>/(R<sub>1</sub>+R<sub>0</sub>)。

对于MOS管电阻直接采样的应用，由于MOS下管关断、上管导通时信号会升高到数十V的电源电压，为减小此时往芯片引脚里流入的电流，建议接\>20kΩ的外部电阻。

对于分流电阻采样的应用，建议接100~2KΩ的外部电阻。C<sub>0</sub>为信号滤波电容，和R<sub>0</sub>形成一阶RC滤波电路。R<sub>0</sub>的具体阻值可根据R<sub>0</sub>\*C<sub>0</sub>的滤波常数而定。如果信号上噪声较小不需要滤波、或者信号需要很大的带宽（较快的响应速度），则C<sub>0</sub>可以不加。

放大器可通过设置OPAOUT_EN选择将放大器的输出信号通过BUFFER送至P2.7管脚口进行测量和应用（对应关系见datasheet芯片管脚说明）。因为有BUFFER存在，在运放正常工作模式下也可以选择送一路运放输出信号出来。其差分摆幅离散度分布为3.2~3.8V。

OPAOUT_EN的说明见模拟寄存器SYS_AFE_REG2

芯片上电的默认状态下，放大器模块是关闭的。放大器可通过设置OPAPDN=1打开。开启放大器之前，需要先开启BGP模块。

OPAPDN的说明见模拟寄存器SYS_AFE_REG1。

运放可通过设置OPA_ST=1来将运放工作在零漂测试模式，具体电路图如下。

【图片已删除】为控制知识库体积，本文档不携带图片，相关图示请查阅凌鸥创芯官网发布的正式手册。

运放输入正负端内置钳位二极管。正端内置±5%精度的反电动势分压电阻R_BEMF支持分时复用，可分别接到OPA0/1/2/3的IP端。R_BEMF只有一路，因此，同一时间只能进行一路反电动势的分压采样。

当进行电流采样时，反电动势分压电阻与OPA输入端断开。相电流流经采样电阻后的信号经过匹配电阻R0后接入OPA正负端，进行放大。

当进行反电动势电压采样时，片外匹配电阻R0与内置反电动势分压电阻R_BEMF构成分压网络，分压后的反电动势电压被OPA放大并进行采样。

等效电路图如下。

【图片已删除】为控制知识库体积，本文档不携带图片，相关图示请查阅凌鸥创芯官网发布的正式手册。

下图总结了OPA的三种工作模式。其中Normal
Mode为正常工作模式，可进行相电流采样；SW Test
Mode，IP端有下拉电阻到地，可与外部电阻构成分压网络，可进行反电动势分压测量采样；使能反电势电阻功能后，其余OPA均与外部连接断开（即其余OPA无法使用）；Offset
Test ModeIP/IN端与外部连接断开，内部短接接地，可用于OPA零漂测量。

【图片已删除】为控制知识库体积，本文档不携带图片，相关图示请查阅凌鸥创芯官网发布的正式手册。

### 比较器

内置2路输入轨到轨（rail-to-rail）比较器，比较器比较速度可编程、迟滞电压可编程、信号源可编程。

比较器的比较延时可通过寄存器CMP_FT设置为＜30nS/300nS。迟滞电压通过CMP_HYS设置为20mV/0mV，迟滞电压可通过CMP0_HYS_Trim进行Trim。

比较器正端输入信号来源可以通过寄存器CMPx_SELP\<3:0\>
进行设置；负端输入信号来源可以通过寄存器CMPx_SELN\<2:0\>进行设置（x=0/1，代表CMP0/CMP1两个比较器）。

需说明的是，两个比较器负输入端的BEMFx_MID信号，是对比较器正输入端信号CMPx_IP1/
CMPx_IP2/
CMPx_IP3信号的平均，具体连接方式见图5-3。其中电阻R=30k欧，图中的开关只有在比较器负输入端信号选择为BEMFx_MID之后才会导通，否则开关都处于断开状态。

BEMFx_MID主要用于BLDC方波模式控制时，虚拟电机相线中心点电压，用于反电势过零点检测。三个相线分压后，分别接CMPx_IP1、CMPx_IP2、CMPx_IP3，MCU控制比较器负端选择BEMFx_MID，比较器正端的多路选择器以分时复用的方式分别选择CMPx_IP1、CMPx_IP2、CMPx_IP3，就可以比较出反电势过零点。

【图片已删除】为控制知识库体积，本文档不携带图片，相关图示请查阅凌鸥创芯官网发布的正式手册。

图5-3
BEMFx_MID信号

比较器输出结果，可以通过CMP_DATA输出数据寄存器读出。

CMP_FT的说明见模拟寄存器SYS_AFE_REG1

CMPx_SELN\<2:0\>/ CMPx_SELP\<3:0\>/
CMP_HYS的说明见模拟寄存器SYS_AFE_REG3

芯片上电的默认状态下，比较器模块是关闭的。比较器通过设置CMPxPDN=1
(x=0,1)打开，开启比较器之前，需要先开启BGP模块。

CMPxPDN的说明见模拟寄存器SYS_AFE_REG5

### 温度传感器

芯片内置温度传感器，在-40~85℃范围内精度为2℃。85~105℃范围内精度为3℃。

测量时需选择内部基准，选择外部基准会引起结果的较大偏差。

芯片出厂前会经温度校正，校正值保存在flash
info区。出厂校正时所用增益为ADC_GAIN=0，建议应用时也选择此增益，可以使校正值更准确。

芯片上电的默认状态下，温度传感器模块是关闭的。开启传感器之前，需要先开启BGP模块。

温度传感器通过设置TMPPDN=1打开，开启到稳定需要约2us，因此需在ADC测量传感器之前2us打开。

温度传感器信号连至ADC的通道14。

ADC部分的设置参考[模数转换器(ADC)](file:///E:\\Linko_repo\\repo_root\\mun\\public\\SPEC\\LKS32MC09x_User_Manual_v0.2-INTERNAL.docx%22%20\l%20%22_模数转换器(ADC))章节

TMPPDN的说明见模拟寄存器SYS_AFE_REG5

温度传感器的典型曲线如下图所示:

【图片已删除】为控制知识库体积，本文档不携带图片，相关图示请查阅凌鸥创芯官网发布的正式手册。

图5-4温度传感器曲线

图中X轴为温度传感器的温度信号所对应的ADC值，Y轴为传感器所处的温度。测温时，按照如上要求配置传感器相关寄存器，并得到ADC值后，将ADC值作为X代入公式:

y=-0.6032x+364.96

求得的Y值即为此时的温度。

公式中有两个系数，a=-0.6032,
b=364.96。对于不同的芯片，b系数的值是不一样的。芯片出厂前会经过温度标定，将每颗芯片所对应的系数b写入flash的info区，地址为0x0000039C。存储时，会将b系数小数点右移一位（乘10）存入info区，小数点后第二位不进行保存。

同时为方便客户操作，系数a也会存入flash
info区，地址为0x00000398。存储时，将a系数小数点右移四位（乘10000）存入info区。

实际使用中，应从flash
info区对应地址读出a/b系数，同时将读取到的ADC测到的当下温度传感器值代入公式，即可计算得到当下温度值，单位为摄氏度。计算时，需注意系数a/b在保存时小数点的位移数，即a系数应除以10000，b系数除以10。

注意，上述计算公式，基于ADC右对齐实现。若换成左对齐，ADC采样值需右移4位后，才能代入上述公式。

### DAC模块

芯片内置一路12bit
DAC，输出信号的最大量程可通过寄存器DAC0_GAIN设置为1.2V/4.76V。

芯片内置一路8bit
DAC，输出信号的最大量程可通过寄存器DAC1_GAIN设置为1.2V/3V。

DAC0可通过配置寄存器DAC0OUT_EN=1，将DAC0输出送至P0.0管脚；可驱动\>5kΩ的负载电阻和50pF的负载电容。

DAC最大输出码率为1MHz。

芯片上电的默认状态下，DAC模块是关闭的。DAC可通过设置DACxPDN
=1打开，开启DAC模块之前，需要先开启BGP模块。

DAC0的输入数字信号寄存器为SYS_AFE_DAC0，低12BIT有效。信号范围是0x000~0xFFF。0x000对应零模拟量输出0V，0xFFF对应满量程模拟量输出为，如上文所述，的值可由DAC12B_FS寄存器进行设置。每一档信号(LSB)所对应的模拟信号幅度为。若SYS_AFE_DAC0的数字值为Din，则该数字信号所对应的DAC输出模拟信号为。

DAC1的输入数字信号寄存器为SYS_AFE_DAC1，低8BIT有效。信号范围是0x00~0xFF。0x00对应零模拟量输出0V，0xFF对应满量程模拟量输出为，如上文所述，的值可由DAC8B_FS寄存器进行设置。每一档信号(LSB)所对应的模拟信号幅度为。若SYS_AFE_DAC0的数字值为Din，则该数字信号所对应的DAC输出模拟信号为

不同芯片，DAC 存在制造偏差，为抵消偏差，DAC0自带校准硬件模块，而DAC1
没有自带校准的硬件模块，需要软件校准。

DAC0 输出循公式y=ax+b。x为SYS_AFE_DAC0
填入值(理想值对应数字量)。a来自SYS_AFE_DAC0_AMC寄存器，b来自SYS_AFE_DAC0_DC。硬件根据SYS_AFE_DAC0、SYS_AFE_DAC0\_
AMC和SYS_AFE_DAC0_DC进行乘加从而求得校正后的数字量，送至 DAC0 输入端使得
DAC0 最终输出的模拟值就是填入的理想数字量对应的值。系统上电后，默认加载
4.8V 的校准值，若换成其它量程，软件需读取 flash info
区域，重新加载到相应寄存器。

DAC1 输出也遵循公式 y=ax+b。但是由于没有硬件校准模块，也没有
SYS_AFE_DAC1_AMC
和SYS_AFE_DAC1_DC寄存器。芯片出厂前会将校准参数a和b的值都写入fash info
区域，用户需要读取 fash info 对应区域的内容然后按照上述公式计算出 DAC1
的值，最后写入 SYS_AFE_DAC1 寄存器。

地址0x00000330，为4.8V量程的a参数，地址0x00000340，为4.8V量程的b参数。

地址0x00000334，为1.2V量程的a参数，地址0x00000344，为1.2V量程的b参数。

DAC输出的模拟信号，除了可以送至IO口供外部模块使用外，还可通过配置寄存器连至芯片内部的2路比较器负端，作为比较器的基准信号使用。详见比较器章节。

DACxOUT_EN的说明见模拟寄存器SYS_AFE_REG2

DACx_GAIN的说明见模拟寄存器SYS_AFE_REG1

DAC12BPDN的说明见模拟寄存器SYS_AFE_REG5

SYS_AFE_DAC的说明见寄存器SYS_AFE_DAC

DAC的输出误差曲线如图所示。

图5-5 DAC误差曲线

DAC
的最低有效位输出误差曲线如图所示，由图可知DAC的输出电压在接近满量程情况下线性度会降低。

## 寄存器

### 地址分配

模拟寄存器的名称为SYS_AFE_REG0~SYS_AFE_REGC，对应地址为0x4000_0010~0x4000_0040。其中地址0x4000_0030~0x4000_0040是模拟各个模块的校正寄存器，这些寄存器在出厂之前都会将各自的校正值填入Flash
info区，并在上电后自动加载到SYS_AFE_REG8~
SYS_AFE_REGC。一般情况下用户不要去配置或改变这些值。如果需要对某个模拟参数进行微调，需要读取原校正值，并以此为基础进行微调。

地址0x4000_0010~0x4000_002C是开放给用户的寄存器，其中保留寄存器(Res)必须全部配置为0（芯片上电后会被复位为0）。其他寄存器根据应用场合需要进行配置。

模拟寄存器基地址为0x4000_0000。

表5-1系统控制寄存器

||||
|---|---|---|
|名称|偏移|说明|
|SYS_AFE_ADC|0x00|ADC原始数据寄存器|
|SYS_AFE_INFO|0x04|芯片版本信息寄存器|
|SYS_AFE_DBG|0x08|芯片数模接口调试寄存器|
|SYS_AFE_REG0|0x10|模拟配置寄存器0|
|SYS_AFE_REG1|0x14|模拟配置寄存器1|
|SYS_AFE_REG2|0x18|模拟配置寄存器2|
|SYS_AFE_REG3|0x1C|模拟配置寄存器3|
|SYS_AFE_REG4|0x20|模拟配置寄存器4|
|SYS_AFE_REG5|0x24|模拟配置寄存器5|
|SYS_AFE_REG7|0x2C|模拟配置寄存器7|
|SYS_AFE_DAC_CTRL|0x5C|DAC控制寄存器|
|SYS_AFE_DAC0|0x60|DAC0数字量寄存器|
|SYS_AFE_DAC1|0x64|DAC1数字量寄存器|
|SYS_AFE_DAC0_AMC|0x68|DAC0数字量增益校正寄存器|
|SYS_AFE_DAC0_DC|0x6C|DAC0数字量直流偏置寄存器|
|SYS_AFE_DAC1_AMC|0x70|DAC1数字量增益校正寄存器|
|SYS_AFE_DAC1_DC|0x74|DAC1数字量直流偏置寄存器|

### SYS_AFE_ADC ADC原始数据寄存器

地址:0x4000_0000

复位值:0x0

表5-2
SYS_AFE_ADC ADC原始数据寄存器

||||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|15|14|13|12|11||10|9|8|7|6|5|4|3|2|1|0|
||||||ADC_RAW_D||||||||||||
||||||RO||||||||||||
||||||0||||||||||||

||||
|---|---|---|
|位置|位名称|说明|
|\[31:12\]||未使用|
|\[11:0\]|ADC_RAW_D|ADC输出的原始数据|

### SYS_AFE_INFO 芯片版本信息寄存器

地址:0x4000_0004

复位值:根据wafer版本不同

表5-3
SYS_AFE_INFO芯片版本信息寄存器

|||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|15|14|13|12|11|10|9|8|7|6|5|4|3|2|1|0|
|Series||||||||Version||||||||
|RO||||||||RO||||||||
|0x04||||||||Depends||||||||

||||
|---|---|---|
|位置|位名称|说明|
|\[31:8\]||未使用|
|\[15:8\]|Series|芯片型号信息，固定为0x04|
|\[7:0\]|Version|芯片版本信息|

此寄存器与用户无关。

### SYS_AFE_DBG AFE调试寄存器

地址:0x4000_0008

复位值:0x0

表5-4
SYS_AFE_DBG AFE调试寄存器

||||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|15|14||13|12|11|10|9|8|7|6|5|4|3|2|1|0|
|PWR_WEAK|||||||||||||||||
|RO|||||||||||||||||
|0|||||||||||||||||

||||
|---|---|---|
|位置|位名称|说明|
|\[31:8\]||未使用|
|\[15\]|PWR_WEAK|供电低于掉电监测阈值|
|\[14:0\]||保留位|

### SYS_AFE_REG0 模拟配置寄存器0

地址:0x4000_0010

复位值:0x0

表5-5
SYS_AFE_REG0模拟配置寄存器0

||||||||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|15|14||13|12||11|10||9|8|7|6|5||4|3|2|1||0|
|ADC_OPA_MODE||PVDSEL|||VSR_PDT|PD_PDT||OPA_ST|IT_OPA||RES_OPA3|||RES_OPA2||RES_OPA1|||RES_OPA0||
|RW||RW|||RW|RW||RW|RW||RW|||RW||RW|||RW||
|0||0|||0|0||0|0||0|||0||0|||0||

||||
|---|---|---|
|位置|位名称|说明|
|\[31:16\]||未使用|
|\[15\]|ADC_OPA_MODE|ADC和运放模式0: ADC量程为+/-3.6V；运放输出的共模电压为1.8V，因此理论上运放输出的最大信号是+/-3.6V，但考虑到共模电压的分布特性，建议运放的最大信号小于+/-3.4V。IO口输入的ADC最大信号可到3.6V。用于电源电压为5V的应用。1: ADC量程为+/-3.3V；运放输出的共模电压为1.6V，因此理论上运放输出的最大信号是+/-3.2V，但考虑到共模电压的分布特性，建议运放的最大信号小于+/-3.0V。IO口输入的ADC最大信号可到3.3V。用于电源电压为3.3V的应用。|
|\[14:13\]|PVDSEL|掉电检测阈值Vth选择00:4.0V01:3.74V10:3.49V11:2.8V精度为100 mV以上阈值为VSR_PDT=0，即选择低功耗基准源VBGP时的设定值；如果VSR_PDT=1，选择DAC输出作为基准，则阈值相应调整为Vth\*DAC0_OUT/VBGP|
|\[12\]|VSR_PDT|掉电检测基准源选择0:选择VBGP1:选择DAC输出|
|\[11\]|PD_PDT|掉电检测电路开关0:开启1:关闭|
|\[10\]|OPA_ST|OPA 内部IP/IN短接以测试零漂0:OPA正常工作模式1:OPA内部IP/IN短接，并与芯片外部断开连接|
|\[9:8\]|IT_OPA|OPA偏置电流调节00:×101:×1.210:×1.511:×2|
|\[7:6\]|RES_OPA3|运放3反馈电阻00: 320k:10k01: 160k:10k10: 80k:10k11: 40k:10k|
|\[5:4\]|RES_OPA2|运放2反馈电阻00: 320k:10k01: 160k:10k10: 80k:10k11: 40k:10k|
|\[3:2\]|RES_OPA1|运放1反馈电阻00: 320k:10k01: 160k:10k10: 80k:10k11: 40k:10k|
|\[1:0\]|RES_OPA0|运放0反馈电阻00: 320k:10k01: 160k:10k10: 80k:10k11: 40k:10k对应的OPA增益分别为:00:33倍01:16倍10:8倍11:4倍使用660k:20k增益设置时，IT_OPA需设置为2b’10，即x1.5倍的电流.|

### SYS_AFE_REG1 模拟配置寄存器1

地址:0x4000_0014

复位值:0x0

表5-6
SYS_AFE_REG1模拟配置寄存器1

|||||||||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|15|14||13|12||11|10||9|8||7|6|5||4|3|2|1|0||
|OPA3PDN||OPA2PDN|OPA1PDN||OPA0PDN|BGPPD||RCHPD|XTAL_FLTPD||LDOOUT_EN|DAC1_GAIN|DAC0_GAIN|||XTAL_SCHT|SW_RES||||CMP_FT|
|RW||RW|RW||RW|RW||RW|RW||RW|RW|RW||RW|RW|RW||||RW|
|0||0|0||0|0||0|0||0|0|0||0|0|0||||0|

||||
|---|---|---|
|位置|位名称|说明|
|\[31:16\]||未使用|
|\[15\]|OPA3PDN|OPA3开关0:关闭1:使能|
|\[14\]|OPA2PDN|OPA2开关0:关闭1:使能|
|\[13\]|OPA1PDN|OPA1开关0:关闭1:使能|
|\[12\]|OPA0PDN|OPA0开关0:关闭1:使能|
|\[11\]|BGPPD|BandGap开关此寄存器配置为1，且芯片通过休眠指令进入休眠后BandGap会被硬件切换至低功耗模式。只配置BGPPD=1，不会立即关闭RCH时钟。如配置BGPPD=0，芯片休眠后BandGap不会被硬件切换至低功耗模式0:开启1:关闭|
|\[10\]|RCHPD|8MHz RCH时钟开关，此寄存器配置为1，且芯片通过休眠指令进入休眠后RCH会被硬件关闭。只配置RCHPD=1，不会立即关闭RCH时钟。如配置RCHPD=0，芯片休眠后RCH时钟不会被关闭0:开启1:关闭|
|\[9\]|XTAL_FLT|晶振低通滤波关闭1:关闭 0:打开|
|\[8\]|LDOOUT \_EN|0:不输出1:使能1.5V LDO输出到IO P0_0|
|\[7\]|DAC1_GAIN|8BIT DAC量程选择0:满量程为3V; 1:满量程为1.2V|
|\[6\]|DAC0_GAIN|12BIT DAC量程选择0:满量程为4.76V; 1:满量程为1.2V|
|\[5\]|Reserved|保留位，必须为0|
|\[4\]|XTAL_SCHT|晶振选择反相器或者施密特1:反相器 0:施密特|
|\[3:1\]|SW_RES|SW电压测量时片内电阻阻值选择000:不使用111:46 ohm011:60 ohm101:67 ohm110:86 ohm001:100 ohm010:150 ohm100:200 ohm|
|\[0\]|CMP_FT|1: 比较器延迟为:15ns(pos)，32ns(neg)0:比较器延迟为:92ns(pos)，320ns(neg)|

### SYS_AFE_REG2 模拟配置寄存器2

地址:0x4000_0018

复位值:0x0

表5-7
SYS_AFE_REG2模拟配置寄存器2

|||||||||||||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|15|14||13|12||11||10|9||8||7||6||5||4||3||2|1|0|
|SW_RES_EN||SW_RES_OPA|||RSV.||BEMFMID_OUTEN|||RSV.||XTAL_RSEL||DAC1_OUT_EN||DAC0_OUT_EN||VREF_OUT_EN||||OPAOUT_EN||||
|RW||RW|||RW||RW|||RW||RW||RW||RW||RW||||RW||||
|0||0|||0||0|||0||0||0||0||0||||0||||

||||
|---|---|---|
|位置|位名称|说明|
|\[31:16\]||未使用|
|\[15\]|SW_RES_EN|使能测量反电动势，使能后OPAx_IP端通过测量电阻下拉到地，通常，此时OPAx_IN端通过外围电路接地。测量电阻连接至哪一个OPA，由SW_RES_OPA进行选择。测量电阻阻值，由SYS_AFE_REG2.SW_RES进行选择。0:断开反电动势测量电阻1:连接反电动势测量电阻|
|\[14:13\]|SW_RES_OPA|测量反电动势的零温度系数电阻连接关系00:接到OPA0正输入端01:接到OPA1正输入端10:接到OPA2正输入端11:接到OPA3正输入端|
|\[12\]|Reserved|保留位|
|\[11:10\]|BEMFMID_OUTEN|使能比较器三个正输入端中点信号到输出00:不输出01:输出比较器0的中点信号到IO 10:输出比较器1的中点信号到IO 11:禁止|
|\[9\]|Reserved|保留位|
|\[8\]|XTAL_RSEL|晶体起振电路电阻调节0:P端电阻维持原值1: P端电阻增加一倍|
|\[7\]|DAC1_OUT_EN|使能DAC1输出到IO 0:不输出1:使能输出到IO P0.0|
|\[6\]|DAC0_OUT_EN|使能DAC0输出到IO0:不输出1:使能输出到IO P0.0|
|\[5\]|VREF_OUT_EN|使能VREF输出到IO 0:不输出1:使能输出到IO P0.0|
|\[4\]|Reserved|保留位|
|\[3:0\]|OPAOUT_EN|使能_OPAx输出信号送至IO口，或使能OPAx_OUT输出信号送至CMP。0000:不输出到IO，输出OPA0_OUT正端到OPA_OUT_CMP;0001:不输出到IO，输出OPA1_OUT正端到OPA_OUT_CMP;0010:不输出到IO，输出OPA2_OUT正端到OPA_OUT_CMP;0011:不输出到IO，输出OPA3_OUT正端到OPA_OUT_CMP;0100:不输出到IO，输出OPA0_OUT负端到OPA_OUT_CMP;0101:不输出到IO，输出OPA1_OUT负端到OPA_OUT_CMP;0110:不输出到IO，输出OPA2_OUT负端到OPA_OUT_CMP;0111:不输出到IO，输出OPA3_OUT负端到OPA_OUT_CMP;1000:输出OPA0_OUT正端到IO P2.7口，同时输出OPA0_OUT正端到OPA_OUT_CMP;1001:输出OPA1_OUT正端到IO P2.7口，同时输出OPA1_OUT正端到OPA_OUT_CMP;1010:输出OPA2_OUT正端到IO P2.7口，同时输出OPA2_OUT正端到OPA_OUT_CMP;1011:输出OPA3_OUT正端到IO P2.7口，同时输出OPA3_OUT正端到OPA_OUT_CMP;1100:输出OPA0_OUT负端到IO P2.7口，同时输出OPA0_OUT负端到OPA_OUT_CMP;1101:输出OPA1_OUT负端到IO P2.7口，同时输出OPA1_OUT负端到OPA_OUT_CMP;1110:输出OPA2_OUT负端到IO P2.7口，同时输出OPA2_OUT负端到OPA_OUT_CMP;1111:输出OPA3_OUT负端到IO P2.7口，同时输出OPA3_OUT负端到OPA_OUT_CMP;即OPAOUT_EN\[3\]控制是否将OPAx输出到IO，OPAOUT_EN\[2:0\]选择OPAx 输出到OPA_OUT_CMP|

其中OPA_OUT_CMP可以作为CMP0/1的输入信号，详见SYS_AFE_REG3.CMPx_SELP。

### SYS_AFE_REG3 模拟配置寄存器3

地址:0x4000_001C

复位值:0x0

表5-8
SYS_AFE_REG3模拟配置寄存器3

|||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|15|14|13|12|11|10|9|8|7|6|5|4|3|2|1|0|
|CMP1_SELP||||CMP0_SELP||||CMP_HYS_ENN|CMP1_SELN||||CMP0_SELN|||
|RW||||RW||||RW|RW||||RW|||
|0||||0||||0|0||||0|||

||||
|---|---|---|
|位置|位名称|说明|
|\[31:16\]||未使用|
|\[15:12\]|CMP1_SELP|比较器1正端信号选择0000: OPA2_IP0001: OPA3_IP0010: OPA2_OUTP, OPA2差分输出正端0011: OPA3_OUTP, OPA3差分输出正端0100: CMP1_IP00101: CMP1_IP10110: CMP1_IP20111: CMP1_IP31000: 未连接1001: DAC1_OUT1010: OPA_OUT_CMP1011: CMP1_IP51100: CMP1_IP61101: CMP1_IP7|
|\[11:8\]|CMP0_SELP|比较器0正端信号选择0000: OPA0_IP0001: OPA1_IP0010: OPA0_OUTP, OPA0差分输出正端0011: OPA1_OUTP, OPA1差分输出正端0100: CMP0_IP00101: CMP0_IP10110: IP_CMP0_IP20111: IP_CMP0_IP31000: IP_CMP0_IP41001: DAC0_OUT1010: OUT_OPA_CMP1011: CMP0_IP51100: CMP0_IP61101: CMP0_IP7|
|\[7\]|CMP_HYS_ENN|比较器回差选择0:20mv1:0mv|
|\[6:4\]|CMP1_SELN|比较器1信号负端选择000: 连IN_CMP1001: 连VBGP010: 连DAC1 OUT011: 连 DAC0 OUT100: 连HS_MID1（中性点的电阻阻值增加为约30k）|
|\[3\]|Reserved|保留位，必须为0|
|\[2:0\]|CMP0_SELN|比较器0信号负端选择000: 连IN_CMP0001: 连VBGP010: 连DAC1 OUT011: 连 DAC0 OUT100: 连HS_MID0（中性点的电阻阻值增加为约30k）|

### SYS_AFE_REG4 模拟配置寄存器4

地址:0x4000_0020

复位值:0x0

表5-9
SYS_AFE_REG4模拟配置寄存器4

||||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|15|14|13|12||11|10|9|8|7|6|5|4|3|2|1|0|
|||||ADC_OPAHF||||||||REF2VDD|||||
|||||RW||||||||RW|||||
|||||0||||||||0|||||

||||
|---|---|---|
|位置|位名称|说明|
|\[31:13\]||未使用|
|\[12\]|ADC_OPAHF|新增ADC_OPAHF ADC半波使能控制位，0：ADC01_CH0~3 为OPA差分模式，ADC_VIN负端接OPA_OUTN；ADC01_CH4~7负端接REF2.4V；其余ADC通道负端接GND。1：所有ADC通道负端接GND。|
|\[11:5\]||未使用|
|\[4\]|REF2VDD|使用外部输入电源作为ADC REF 1: 使用外部输入电源作为ADC REF，此时GAIN_REF配置无效;0: 使用默认内部REF作为ADC基准|
|\[3:0\]||未使用|

### SYS_AFE_REG5 模拟配置寄存器5

地址:0x4000_0024

复位值:0x0

表5-10
SYS_AFE_REG5模拟配置寄存器5

||||||||||||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|15|14|13|12|11|10|9||8|7||6||5||4||3||2||1||0||
||||||||RSTSEL|||CMP1PDN||CMP0PDN||PLLPDN||XTALPDN||TMPPDN||DAC1PDN||DAC0PDN||RSV|
||||||||RW|||RW||RW||RW||RW||RW||RW||RW||RW|
||||||||0|||0||0||0||0||0||0||0||0|

||||
|---|---|---|
|位置|位名称|说明|
|\[31:16\]||未使用|
|\[15:10\]|Reserved|保留位，必须为0|
|\[9:8\]|RSTSEL|电源复位阈值Vth选择00: 2.30V01: 2.00V10: 2.70V11: 3.00V|
|\[7\]|CMP1PDN|比较器1开关0:关闭1:使能|
|\[6\]|CMP0PDN|比较器0开关0:关闭1:使能|
|\[5\]|PLLPDN|PLL开关0:关闭1:使能|
|\[4\]|XTALPDN|晶体起振电路开关0:关闭1:使能|
|\[3\]|TMPPDN|温度传感器开关0:关闭1:使能|
|\[2\]|DAC1PDN|8BIT DAC开关0:关闭1:使能|
|\[1\]|DAC0PDN|12BIT DAC开关0:关闭1:使能|
|\[0\]|Reserved|保留位，必须为0|

### SYS_AFE_REG7 模拟配置寄存器7

地址:0x4000_002C

复位值:0x0

表5-11
SYS_AFE_REG7模拟配置寄存器7

||||||||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|15|14|13|12|11|10|9||8||7||6||5|4|3||2|1|0|
||||||||ADCPDN||SHAPDN||RSV||PLL_FREQ||||RSV||||
||||||||RW||RW||RW||RW||||RW||||
||||||||0||0||0||0||||0||||

||||
|---|---|---|
|位置|位名称|说明|
|\[31:16\]||未使用|
|\[15:10\]|Reserved|保留位，必须为0|
|\[9\]|ADCPDN|ADC使能位0:关闭1:使能|
|\[8\]|SHAPDN|ADC采样保持电路使能位0:关闭1:使能|
|\[7\]|Reserved|保留位，必须为0|
|\[6:4\]|PLL_FREQ|PLL输出频率选择MCU时钟和ADC时钟分别为:000:96MHz，32MHz001:96MHz，16MHz010:72MHz，24MHz011:72MHz，12MHz100:64MHz，64/3MHz101:64MHz，32/3MHz110:64MHz，32MHz111:64MHz，16MHz|
|\[3:0\]|Reserved|保留位，必须为0|

### SYS_AFE_DAC_CTRL DAC控制寄存器

地址:0x4000_005C

复位值:0x0

表5-12 SYS_AFE_DAC_CTRL DAC控制寄存器

||||||||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|15|14|13|12|11|10|9|8|7||6|5|4||3||2||1||0|
||||||||||DAC0_STEP||||Res.||TIMER2_TRIG_DAC0||TIMER1_TRIG_DAC0||TIMER0_TRIG_DAC0||
||||||||||RW||||RW||RW||RW||RW||
||||||||||0||||0||0||0||0||

||||
|---|---|---|
|位置|位名称|说明|
|\[31:7\]||未使用|
|\[6:4\]|DAC0_STEP|SYS_AFE_DAC0步进值，3bit有符号数，范围-4~3|
|\[3\]|Reserved|保留位，必须为0|
|\[2\]|TIMER2_TRIG_DAC0|TIMER2过零事件触发DAC0步进使能，高有效|
|\[1\]|TIMER1_TRIG_DAC0|TIMER1过零事件触发DAC0步进使能，高有效|
|\[0\]|TIMER0_TRIG_DAC0|TIMER0过零事件触发DAC0步进使能，高有效|

DACx允许使用TIMER的过零事件作为触发来更新SYS_AFE_DACx的值，每触发一次，DAC的设置值在原值的基础上步进一次（递增或递减），步进值由SYS_AFE_CTRL.DACx_STEP设定。

### SYS_AFE_DAC0 DAC0数字量寄存器

地址:0x4000_0060

复位值:0x0

表5-13 SYS_AFE_DAC0 DAC0数字量寄存器

||||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|15|14|13|12||11|10|9|8|7|6|5|4|3|2|1|0|
|||||DAC_IN|||||||||||||
|||||RW|||||||||||||
|||||0|||||||||||||

||||
|---|---|---|
|位置|位名称|说明|
|\[31:12\]||未使用|
|\[11:0\]|DAC_IN|DAC0待转换的数字量输入|

### SYS_AFE_DAC1 DAC1数字量寄存器

地址:0x4000_0064

复位值:0x0

表5-14 SYS_AFE_DAC1 DAC1数字量寄存器

||||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|15|14|13|12|11|10|9|8||7|6|5|4|3|2|1|0|
|||||||||DAC_IN|||||||||
|||||||||RW|||||||||
|||||||||0|||||||||

||||
|---|---|---|
|位置|位名称|说明|
|\[31:8\]||未使用|
|\[7:0\]|DAC_IN|DAC1待转换的数字量输入|

### SYS_AFE_DAC0_AMC DAC0增益校正寄存器

地址:0x4000_0068

复位值:0x0200

表5-15
SYS_AFE_DAC0_AMC DAC0增益校正寄存器

|||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|15|14|13|12|11|10|9|8|7|6|5|4|3|2|1|0|
|||||||AMC||||||||||
|||||||RW||||||||||
|||||||0x200||||||||||

||||
|---|---|---|
|位置|位名称|说明|
|\[31:10\]||未使用|
|\[9:0\]|AMC|DAC0增益校正值，10bit无符号定点数，B\[9\]为整数，B\[8:0\]为小数|

### SYS_AFE_DAC0_DC DAC0直流偏置寄存器

地址:0x4000_006C

复位值:0x0

表5-16
SYS_AFE_DAC0_DC DAC0直流偏置寄存器

||||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|15|14|13|12|11|10||9|8|7|6|5|4|3|2|1|0|
|||||||DC|||||||||||
|||||||RW|||||||||||
|||||||0|||||||||||

||||
|---|---|---|
|位置|位名称|说明|
|\[31:10\]||未使用|
|\[9:0\]|DC|DAC0直流偏置，10bit有符号数，B\[9\]为符号位|

